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    静电对电子元器件的危害有哪些?
    点击次数:102 发布时间:2022-03-28
      通常,静电的产生是由于摩擦或感应而产生。
      摩擦静电是由于两个物体接触摩擦或分离过程中产生电荷的移动而产生。导体间的摩擦留下的静电通常比较弱,这是由于导体的导电能力强,摩擦产生的离子会在摩擦过程中及终止时很快运动到一起而中和。而绝缘体摩擦后,可能会产生较高的静电电压,但是电荷量却很小。这是由于绝缘体本身的物理结构决定的。绝缘体的分子结构中,电子很难脱离原子核的束缚自由移动,所以,摩擦结果也只能产生少量的分子或原子电离。
      感应静电是物体处于电场之中,受电磁场的作用,物体中的电子发生移动而形成电场。感应静电一般只能在导体上产生。空间电磁场对绝缘体的作用可以忽视。
      静电对半导体元器件的破坏,最终是有电流的参与。在电流的作用下,由于热而破坏器件。要有电流,就要有电压。但是,半导体二极管有PN结,无论是正向还是反向,PN结都会有阻挡电流的一个电压范围。正向势垒低,反向势垒则要高很多。在一个电路中,哪里的电阻大,电压就在哪里集中。但就来看LED,电压正向加给LED时,当外电压小于二极管的阈值电压(大小与材料禁带宽度对应),没有正向电流,电压所有加在PN结上。电压反向加给LED时,当外电压小于LED的反向击穿电压时,电压也是所有加在PN结上,此时,LED的虚焊点也罢,支架也罢、P区也罢、N区也罢,统统都没有电压降!因为没有电流。当着PN结击穿后,外电压才会由电路上的所有电阻分担。哪个地方电阻大,哪个部分承担的电压就高。就LED而言,自然是PN结承担了大部分电压。在PN结上产生的热功率就是它上面的压降乘以电流值。若是电流值不加限制,过高的热量就会将PN结烧坏,PN结失去作用而穿通。
      静电测试仪主要用于实验室条件下测定纺织原料和制成品(含纤维、纱线、织物、地毯、装饰织物)的静电性能,也可用来测定其它片、板状材料如纸张、橡胶、塑料、复合板材等的静电性能。仪器主机由电晕放电装置、探头和检测系统组成。利用给定的高压电场,对被测试样定时放电,使试样感应静电,从而进行静电电量大小、静电压半衰期、静电残留量的检测,以确定被测试样的静电性能。

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